Cтенди контролю керамічної плитки 1800 мм Збільшити для перегляду

Cтенди контролю керамічної плитки 1800 мм

27721800

МІКРОТЕХ (Україна)

Новий товар

• Для контроля геометричних розмірів
керамічної плитки та слябів
• QC модуль для партіонного контролю та
архівації результатів

Детальніше

Завантаження

426 240,00грн

Характеристики

Діапазон вимірювання ,мм 100-1800
Похибка, мм ±0,1
Дискретність відліку ,мм 0.001
Бездротовий вивід даних +

Інформація

• СТП МК 08.02.001 МТУ
• Для контроля геометричних розмірів
керамічної плитки та слябів
• QC модуль для партіонного контролю та
архівації результатів
• Легка переносна конструкція
• 100% метрологічний контроль
• Калібрування ISO 17025:2017
• Розробка МІКРОТЕХ 2019 року
• Виробництво МІКРОТЕХ (Україна)

Аксесуари

30 інших товарів в цій категорії: