Cтенди контролю керамічної плитки 2800 мм Збільшити для перегляду

Cтенди контролю керамічної плитки 2800 мм

27721800

МІКРОТЕХ (Україна)

Новий товар

• Для контроля геометричних розмірів
керамічної плитки та слябів
• QC модуль для партіонного контролю та
архівації результатів

Детальніше

Завантаження

350 464,20грн

Характеристики

Діапазон вимірювання ,мм100-2800
Похибка, мм±0,1
Дискретність відліку ,мм0.001
Бездротовий вивід даних+

Інформація

• СТП МК 08.02.001 МТУ
• Для контроля геометричних розмірів
керамічної плитки та слябів
• QC модуль для партіонного контролю та
архівації результатів
• Легка переносна конструкція
• 100% метрологічний контроль
• Калібрування ISO 17025:2017
• Розробка МІКРОТЕХ 2019 року
• Виробництво МІКРОТЕХ (Україна)

Аксесуари

30 інших товарів в цій категорії: