Штангенрейсмас компьюетрный с точным подводом МИКРОТЕХ предназначенный...
Штангенрейсмас компьютерный с точным подводом МИКРОТЕХ предназначенный...
Штангенрейсмас компьюетрный с точным подводом МИКРОТЕХ предназначенный...
Штангенрейсмас цифровой с точным подводом МИКРОТЕХ предназначенный для...
Штангенрейсмас цифровой с точным подводом МИКРОТЕХ предназначенный для...
Штангенрейсмас цифровой с точным подводом МИКРОТЕХ предназначенный для...
Микрометр с расширенным диапазоном измерений МКК разработан...
Микрометр с расширенным диапазоном измерений МКК разработан...
Подкатегории
Штативы на магнитном основании ШМ-IIН и ШМ-IIВ идеальны для установки индикаторов и универсальны благодаря двум осям поворота. Штативы обладают мощным усилием отрыва и предназначены для работы на металлических поверхностях с магнитными свойствами.
Стойки гибкие на магнитном основании МС-29 и МС-29S обеспечивают надежную фиксацию на поверхности с помощью зажимного рычага. Идеально подходят для измерений в труднодоступных зонах.
Призмы применяются при контроле обрабатываемой детали. Имеют отшлифованные плоские призматические поверхности и рамку для зажима цилиндрических деталей.